應(yīng)用低溫試驗箱時可根據(jù)GB 2424.1—《電工電子產(chǎn)品基本試驗環(huán)境試驗規(guī)程：高溫低溫試驗導(dǎo)則》的指導(dǎo)選定下列參數(shù)：
a.試驗箱內(nèi)溫度變化的速率；
b.試驗樣品放入試驗箱的時間；
c.試驗樣品在試驗條件下曝露試驗開始時間；
d.試驗樣品通電或負(fù)載的時間。
 
  應(yīng)用低溫試驗箱標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)對低溫試驗方法給出下列適用的細(xì)節(jié)：
a.預(yù)處理；
b.初始檢測；
c.安裝或支承的細(xì)節(jié)；
d.條件試驗期間試驗樣品（包括冷卻系統(tǒng)）的狀況；
e.嚴(yán)酷程度（溫度和試驗持續(xù)時間）；
f.條件試驗期間的測量和（或）負(fù)載；
g.恢復(fù)（如不是在標(biāo)準(zhǔn)條件下恢復(fù)）；
h.最后檢測；
i:供需雙方同意的對低溫試驗箱試驗程度的任何更改。